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       客戶經(jīng)常在使用LCR電橋測試高誘電率型陶瓷電容容量時，有時會無法得到與標稱靜電容量相同的值，下面我們來說明下這個問題。

       高誘電型陶瓷電容的靜態(tài)電容量，會隨溫度、電壓、頻率及時間變化而發(fā)生變化；以下圖一到圖五為變化圖：

圖一：溫度特性，靜電容量隨溫度的變化而變化。

圖二：DC偏壓特性，靜電容量隨不同的DC偏壓而發(fā)生變化。

圖三：AC電壓特性，靜電容量隨著AC電壓變化而發(fā)生變化。

圖四：頻率特性，靜電容量隨著頻率變化而發(fā)生變化。

圖五：老化特性，靜電容量隨時間變化而發(fā)生變化。

       我們就從以上因素中，選擇電壓這個因素具體來說明：

測試樣品型號：1206 X7R 10UF K 10V

測試條件：頻率1±0.1KHz，電壓1.0±0.2Vrms

       通常一般的LCR測試電橋去測試高誘電型貼片電容，會把測試電橋的測試電壓拉低，導(dǎo)致實際加載在被測貼片電容兩端的測試電壓不足1.0V（原因為一般的LCR測試電橋不具備ALC電壓調(diào)整機制），加以下圖片說明：

圖六， 圖七，

圖六：A、表示測試電壓設(shè)定為1.0V，B、表示ALC通道已打開；圖七：A、表示實際的監(jiān)測電壓，B、表示測試出來的容量為9.855uF。

圖八，圖九，

圖八：A、表示ALC通道已關(guān)閉，B、表示測試電壓設(shè)定為1.0V；圖七：A、表示實際的監(jiān)測電壓已被拉低到0.18V，B、表示測試出來的容量為8.429uF。

       以上就是貼片電容靜電容值的五大特性和測試方法的詳細解讀，還有疑問可咨詢佳益電子客服。